在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試回路電阻測(cè)試儀時(shí)，存在一個(gè)普遍的問題：當(dāng)測(cè)試儀的電壓接線回路接觸不良或斷路時(shí)，測(cè)試儀還將顯示一個(gè)值，并且此時(shí)將出現(xiàn)以下情況：

　　(1)電壓環(huán)路是開放的，在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒有強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾。在這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本上為0，因此儀器顯示的測(cè)試值接近于0。如果測(cè)試人員具有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，則可以推斷出儀器是例外。排除儀器電壓回路測(cè)試線后，可獲得最終的準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果;

　　(2)電壓電路接觸不良。在大多數(shù)情況下，長(zhǎng)期操作后，斷路器的接線端子在接線盒的外觀上會(huì)形成氧化膜或油膜。將回路電阻表的電壓測(cè)試夾鉗夾到這樣的端子塊上是可能的。如果接觸不良，則電壓測(cè)試線夾本身也將具有正接觸電阻。首先將接觸電阻值與電壓采樣環(huán)路的內(nèi)部電阻值進(jìn)行比較，這將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生重大影響。

　　(3)電壓電路斷開或連接不良(電路斷開時(shí)可見接觸電阻R1無限大)，并且在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)存在強(qiáng)烈的電磁干擾，例如母線已充電。此時(shí)，已充電的母線以空氣為介質(zhì)通過電容器，從而對(duì)測(cè)試儀產(chǎn)生干擾。對(duì)于兩條電壓測(cè)試線，由于干擾，差模電壓會(huì)出現(xiàn)在環(huán)路測(cè)試儀的電壓采集線的兩端。